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扫描电子显微镜在陶瓷材料中的应用.pdf
来源:电子 资料
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日本电子Spiral TOF 样本
来源:日本电子株式会社(JEOL) 资料
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Sievers分析仪应用于微电子行业
微电子Sievers分析仪应用于微电子行业无Sievers分析仪应用于微电子行业
来源:Sievers分析仪(威立雅) 应用
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PZT陶瓷靶材的制备及相成分分析.pdf
来源:电子 资料
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日本电子扫描电镜规格一览表
来源:日本电子株式会社(JEOL) 资料
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全新电子光学仪器进展
JEOL是全世界电子光学仪器发展的引领者,近年推出的一系列全新的电子光学产品性能好,稳定性强且智能化程度高,操作得心应手,是材料表征和分析的绝佳选择。
来源:日本电子株式会社(JEOL) 相关产品:JEM-ARM200F NEOARM 原子分辨分析型球差校正透射电镜 资料
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JCM-6000 NeoScope™ 台式扫描电子显微镜
来源:日本电子株式会社(JEOL) 资料
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冷场发射扫描电子显微镜 JSM-7500F
来源:日本电子株式会社(JEOL) 资料
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120kV高衬度透射电子显微镜_JEM-1400
120kV高衬度透射电子显微镜_JEM-1400 仪器描述 主要特点 主要参数透射电子显微镜 JEM-1400
来源:日本电子株式会社(JEOL) 资料
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300kV场发射透射电子显微镜 JEM-3100F
来源:日本电子株式会社(JEOL) 资料
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